DIN EN 60749-33-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器

作者:标准资料网时间:2024-05-27 15:57:58 浏览:8567 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part33:Acceleratedmoistureresistance-Unbiasedautoclave(IEC60749-33:2004);GermanversionEN60749-33:2004
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器
【标准号】:DINEN60749-33-2004
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2004-09
【实施或试行日期】:2004-09-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机械试验;环境试验;热压处理;试验;耐力;粘结强度;电子设备及元件;抗湿;电气工程;试验条件;破坏试验;电学测量;半导体器件;定义;高压釜;半导体;元部件;气候试验;电子工程;集成电路
【英文主题词】:
【摘要】:Theunbiasedautoclavetestisperformedtoevaluatethemoistureresistanceintegrityofnon-hermeticpackagedsolid-statedevicesusingmoisturecondensingormoisturesaturatedsteamenvironments.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P;A4
【正文语种】:德语

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